Please use this identifier to cite or link to this item: http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/34195
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorPimporn Junphongen_US
dc.date.accessioned2014-09-19T04:45:00Z-
dc.date.available2014-09-19T04:45:00Z-
dc.date.issued2006en_US
dc.identifier.govdocTh 539.60287 P644Sen_US
dc.identifier.urihttp://search.lib.cmu.ac.th/search/?searchtype=.&searcharg=b1400739en_US
dc.identifier.urihttp://cmuir.cmu.ac.th/handle/6653943832/34195-
dc.language.isoengen_US
dc.publisherChiang Mai : Graduate School, Chiang Mai University, 2006en_US
dc.subjectMass spectrometeren_US
dc.titleSystem development of a time-of-flight spectrometer for surface analysis of materials using medium-energy ion backscattering = การพัฒนาระบบของไทม์-ออฟ-ไฟลต์ สเปกโทมิเตอร์สำหรับการวิเคราะห์ผิววัสดุโดยการกระเจิงกลับของไอออนที่มีพลังงานระดับกลาง / Pimporn Junphongen_US
dc.typeThesisen_US
Appears in Collections:SCIENCE: Theses



Items in CMUIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.