การลดของเสียจากกระบวนการล้างฟิล์มป้องกันการชุบทองของแผงวงจรแบบอ่อนด้วยเทคนิคการออกแบบการทดลอง = Gold mask dry film defect reduction of flexible printed circuit by design of experiment technique / ยรรยง เตชะวิจิตร์;"Gold mask dry film defect reduction of flexible printed circuit by design of experiment technique"

Please use this identifier to cite or link to this item: http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/13111

Title:	การลดของเสียจากกระบวนการล้างฟิล์มป้องกันการชุบทองของแผงวงจรแบบอ่อนด้วยเทคนิคการออกแบบการทดลอง = Gold mask dry film defect reduction of flexible printed circuit by design of experiment technique / ยรรยง เตชะวิจิตร์;"Gold mask dry film defect reduction of flexible printed circuit by design of experiment technique"
Authors:	ยรรยง เตชะวิจิตร์
Authors:	ยรรยง เตชะวิจิตร์
Keywords:	อุตสาหกรรมแผงวงจรไฟฟ้า -- การลดปริมาณของเสีย;แผงวงจรไฟฟ้า -- การผลิต;การออกแบบการทดลอง
Issue Date:	2550
Publisher:	เชียงใหม่ : บัณฑิตวิทยาลัย มหาวิทยาลัยเชียงใหม่, 2550
Gov't Doc #:	ว 621.3815 ย177ก
URI:	http://search.lib.cmu.ac.th/search/?searchtype=.&searcharg=b1413293 http://cmuir.cmu.ac.th/handle/6653943832/13111
Appears in Collections:	ENG: Independent Study (IS)

Files in This Item:

File	Size	Format
inma0650yt_tpg.pdf	466.3 kB	Adobe PDF	View/Open Request a copy
inma0650yt_abs.pdf	476.38 kB	Adobe PDF	View/Open
inma0650yt_con.pdf	478.99 kB	Adobe PDF	View/Open Request a copy
inma0650yt_ch1.pdf	907.69 kB	Adobe PDF	View/Open Request a copy
inma0650yt_ch2.pdf	1.99 MB	Adobe PDF	View/Open Request a copy
inma0650yt_ch3.pdf	594.77 kB	Adobe PDF	View/Open Request a copy
inma0650yt_ch4.pdf	1.44 MB	Adobe PDF	View/Open Request a copy
inma0650yt_ch5.pdf	426.21 kB	Adobe PDF	View/Open Request a copy
inma0650yt_bib.pdf	435.84 kB	Adobe PDF	View/Open Request a copy
inma0650yt_app.pdf	654.73 kB	Adobe PDF	View/Open Request a copy