Please use this identifier to cite or link to this item: http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/78469
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.advisorรุ่งฉัตร ชมภูอินไหว-
dc.contributor.authorยุทธนา คำพูนen_US
dc.date.accessioned2023-07-12T00:32:53Z-
dc.date.available2023-07-12T00:32:53Z-
dc.date.issued2023-06-
dc.identifier.urihttp://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/78469-
dc.description.abstractThe Case Study Company is engaged in the manufacturing and distribution of electronic products. It has identified the BA0028 circuit board as having the highest defect rate, approximately 40%. Therefore, the objective of this research is to Defect Reduction in Printed Circuit Board Assembly by Six Sigma Technique. A 5-step Six Sigma process DMAIC, which includes Define, Measure, Analyze, Improve, and Control. The production process of the product was thoroughly studied by creating a process flow diagram. It was determined that the most significant defects accounted for over 80% of the total, specifically 1) Tombstone defects with a proportion of 52%, and 2) Solder Open defects with a proportion of 29%. The measurement system was analyzed based on the acceptance criteria of the Case Study Company. Brainstorming sessions were conducted with personnel involved in production to create a fishbone diagram for analyzing defects and their impacts. This resulted in Risk Priority Number (RPN) scores above 100 for both Tombstone and Solder Open defects. The possible causes for both defects were identified as follows: 1) soaking time of the solder paste before reflow soldering, 2) spacing between the solder pads on both sides, and 3) solder height. These three factors were then used to design 2^k full factorial experiment at two levels, and the response data was analyzed using Freeman and Tukey's method until suitable conditions were obtained for implementation in actual production. The determined conditions were soaking time of the solder paste before reflow soldering of 30 +/- 0.3 seconds, a spacing of 4.5 millimeters between the solder pads on both sides, and a solder height of 5.0 mils. Experimental results confirmed that the defect rate for Tombstone and Solder Open defects decreased from 8.62% to 0.93%, which was statistically significant when applying the proposed process improvement recommendations. To maintain the improved condition and prevent recurring defects, work standards were established. Additionally, a statistical process control system was developed by using the p-chart.en_US
dc.language.isootheren_US
dc.publisherเชียงใหม่ : บัณฑิตวิทยาลัย มหาวิทยาลัยเชียงใหม่en_US
dc.titleการลดข้อบกพร่องในการประกอบแผงวงจรพิมพ์โดยเทคนิคซิกซ์ซิกมาen_US
dc.title.alternativeDefect reduction in printed circuit board assembly by six sigma techniqueen_US
dc.typeIndependent Study (IS)
thailis.controlvocab.thashซิกซ์ซิกมา (มาตรฐานการควบคุมคุณภาพ)-
thailis.controlvocab.thashวงจรอิเล็กทรอนิกส์-
thailis.controlvocab.thashอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์-
thesis.degreemasteren_US
thesis.description.thaiAbstractบริษัทกรณีศึกษาเป็นบริษัทที่ดำเนินกิจการเกี่ยวกับการประกอบและจำหน่ายผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์แบบครบวงจร พบว่าผลิตภัณฑ์แผงวงจรพิมพ์รุ่น BA0028 มีปริมาณข้อบกพร่องเกิดขึ้นมากที่สุดประมาณ 40% สำหรับในงานวิจัยนี้จึงมีวัตถุประสงค์เพื่อลดข้อบกพร่องในการประกอบแผงวงจรพิมพ์โดยเทคนิคซิกซ์ซิกมา ดำเนินการตามขั้นตอนของซิกซ์ซิกมา 5 ขั้นตอน DMAIC คือ ขั้นตอนการกำหนดปัญหา (Define) ขั้นตอนการวัด (Measure) ขั้นตอนการวิเคราะห์ (Analyze) ขั้นตอนการปรับปรุง (Improve) และขั้นตอนการควบคุม (Control) ทำการศึกษาขั้นตอนการผลิตของผลิตภัณฑ์อย่างละเอียดโดยสร้างแผนผังการไหลของกระบวนการ จากนั้นจัดลำดับความสำคัญของการเกิดข้อบกพร่องโดยใช้แผนภูมิพาเรโต ผลพบว่าข้อบกพร่องที่มีผลรวมสัดส่วนเกิน 80% คือ 1) ข้อบกพร่องทูมสโตน (TOMBSTONE) มีสัดส่วน 52% และ 2) ข้อบกพร่องโลหะบัดกรีไม่ติด (SOLDER OPEN) มีสัดส่วน 29% จากนั้นทำการวิเคราะห์ระบบการวัดโดยอ้างอิงเกณฑ์การยอมรับของบริษัทกรณีศึกษา ต่อมาทำการระดมสมองกับบุคลากรที่เกี่ยวข้องกับการผลิต เพื่อจัดทำแผนผังก้างปลาสำหรับการวิเคราะห์ข้อบกพร่องและผลกระทบได้ค่าคะแนน RPN มากกว่า 100 คะแนนของข้อบกพร่องทูมสโตนและโลหะบัดกรีนั้นมีสาเหตุที่เป็นไปได้เหมือนกัน นั่นคือ 1) เวลาในการแช่โลหะบัดกรีก่อนการหลอมละลาย 2) ระยะห่างระหว่างโลหะบัดกรี ทั้งสองด้าน และ 3) ความสูงของโลหะบัดกรี นำทั้ง 3 ปัจจัยไปทำการออกแบบการทดลอง 2^k แฟคทอเรียลเต็มจำนวน ปัจจัยละ 2 ระดับและมีการแปลงของข้อมูลผลตอบโดยวิธี Freeman และ Tukey จนได้เงื่อนไขที่เหมาะสมสำหรับนำไปใช้กับงานจริง คือ เวลาในการแช่โลหะบัดกรีก่อนการหลอมละลายที่ 30 +/-0.3 วินาที ระยะห่างระหว่างโลหะบัดกรีทั้งสองด้านที่ 4.5 มิลลิเมตร และ ความสูงของโลหะบัดกรีที่ 5.0 มิลส์ ซึ่งจากการทดลองยืนยันผลเมื่อนำเงื่อนไขของปัจจัยที่ได้ไปใช้กับการผลิตงานจริง สามารถสรุปได้ว่าชิ้นงานบกพร่องทูมสโตนและโลหะบัดกรีไม่ติดลดลงจาก 8.62% เหลือ 0.93% อย่างมีนัยสำคัญทางสถิติเมื่อใช้วิธีการปรับปรุงกระบวนการที่ได้ทำการเสนอแนะ และเพื่อรักษาสภาพการปรับปรุงให้คงอยู่เหมือนเดิม ไม่ให้เกิดข้อบกพร่องซ้ำขึ้นอีก ได้กำหนดมาตรฐานการทำงาน อีกทั้งยังได้จัดทำระบบควบคุมกระบวนการเชิงสถิติโดยใช้แผนภูมิควบคุมแบบ p-charten_US
Appears in Collections:ENG: Independent Study (IS)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
620632047 - ยุทธนา คำพูน.pdfการลดข้อบกพร่องในการประกอบแผงวงจรพิมพ์โดยเทคนิคซิกซ์ซิกมา22.02 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy


Items in CMUIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.