Please use this identifier to cite or link to this item:
http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/69303
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | อาจารย์ ดร.คมสันติ โชคถวาย | - |
dc.contributor.author | วัชราภรณ์ วนสัณฑ์วงกต | en_US |
dc.date.accessioned | 2020-08-04T00:39:14Z | - |
dc.date.available | 2020-08-04T00:39:14Z | - |
dc.date.issued | 2016-03 | - |
dc.identifier.uri | http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/69303 | - |
dc.description.abstract | The aim of this study is to detect the deception by thermal imaging utilizing the infrared camera. In this study, infrared camera was used to detect facial temperature change on the areas of interest (AOI) such as forehead, periorbital regions, nose and cheeks. There were 21 participants between the ages of 20 and 27 who attended in this experiment. Card test and Peak of Tension test (POT) were applied as questions to detect a peak of temperature change regarding deception in experiments. Afterwards, comparing results from the differences in facial temperature change between deception and truth telling. It was found that the temperature of facial areas of interest (AOI) tended to be increased and tended towards a maximum during lying. The temperature around the nose was higher than the temperature change around periorbital regions and cheeks, whereas there is little different temperature change on the area of forehead. The results indicate that thermal imaging technique can detect deception. Besides, the area that found the maximum change of temperature is the nose. This finding is supported by the theory of “Pinocchio Effect”. That is to say, your nose temperature rises when you lie. Furthermore, thermal imaging technique can pay an increasingly important role in polygraph testing as an additional scoring channel to increase the accuracy and reliability of lie detection. | en_US |
dc.language.iso | th | en_US |
dc.publisher | เชียงใหม่ : บัณฑิตวิทยาลัย มหาวิทยาลัยเชียงใหม่ | en_US |
dc.title | การถ่ายภาพความร้อนสำหรับการตรวจจับการหลอกลวง | en_US |
dc.title.alternative | Thermal Imaging for Detection of Deception | en_US |
dc.type | Independent Study (IS) | |
thesis.degree | master | en_US |
thesis.description.thaiAbstract | การศึกษานี้มีวัตถุประสงค์เพื่อทำการตรวจจับการหลอกลวงโดยอาศัยการถ่ายภาพความร้อนด้วยกล้องถ่ายภาพอินฟราเรด ในการศึกษานี้ใช้กล้องอินฟราเรดเพื่อตรวจวัดการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิบริเวณที่สนใจศึกษา (AOI: Areas of Interest) ต่าง ๆ ใบหน้า ได้แก่ บริเวณ หน้าผาก รอบเบ้าตา จมูก และแก้ม ของผู้เข้าร่วมการศึกษาทั้งหมด 21 คน อายุระหว่าง 20 - 27 ปี โดยทำการทดสอบด้วยบัตรหมายเลข (Card test) และประยุกต์ใช้รูปแบบวิธีการทดสอบจุดสุดยอดของความตึงเครียด (POT: Peak of Tension Test) ในการตั้งคำถาม เพื่อใช้เป็นคำถามในการตรวจจับการหลอกลวง จากนั้น ทำการเปรียบเทียบผลการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ ณ บริเวณที่ศึกษาระหว่างการหลอกลวงและการกล่าวความจริง จากการทดลอง พบว่า อุณหภูมิตามบริเวณต่าง ๆ บนใบหน้า มีแนวโน้มจะเพิ่มสูงขึ้น และจะเพิ่มสูงที่สุดเมื่อขณะทำการกล่าวหลอกลวง โดยบริเวณที่พบการเปลี่ยนแปลงมากที่สุดคือ บริเวณจมูก รองลงมาคือ บริเวณรอบเบ้าตาและแก้ม และบริเวณที่พบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิน้อยที่สุดคือ บริเวณหน้าผาก จากผลการศึกษานี้จึงสรุปได้ว่า เทคนิคการถ่ายภาพความร้อนสามารถตรวจจับการกล่าวหลอกลวงได้ และบริเวณที่พบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิเนื่องจากการกล่าวหลอกลวงมากที่สุด คือ บริเวณจมูก ซึ่งสอดคล้องกับทฤษฎีพินอคคิโอ (Pinocchio Effect) ตรงที่ “ยิ่งโกหก จมูกยิ่งร้อนขึ้น” นอกจากนี้ การถ่ายภาพด้วยความร้อนนี้ยังช่วยเพิ่มขีดความสามารถในด้านความถูกต้องแม่นยำและความน่าเชื่อถือในการตรวจจับการหลอกลวงโดยการประยุกต์ใช้ร่วมกับเครื่องโปลีกราฟได้อย่างมีประสิทธิภาพยิ่งขึ้น | en_US |
Appears in Collections: | GRAD-Sciences and Technology: Independent Study (IS) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Full.pdf | 5.59 MB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in CMUIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.