Please use this identifier to cite or link to this item: http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/32290
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorปิ่นศักดิ์ ชุมเกษียนen_US
dc.date.accessioned2014-09-19T04:19:08Z-
dc.date.available2014-09-19T04:19:08Z-
dc.date.issued2523en_US
dc.identifier.govdocว 530.41072 ป358ทen_US
dc.identifier.urihttp://search.lib.cmu.ac.th/search/?searchtype=.&searcharg=b1104045en_US
dc.identifier.urihttp://cmuir.cmu.ac.th/handle/6653943832/32290-
dc.language.isothaen_US
dc.publisherเชียงใหม่ : บัณฑิตวิทยาลัย มหาวิทยาลัยเชียงใหม่, 2523en_US
dc.subjectฟิสิกส์ -- วิจัยen_US
dc.subjectฟิล์มบางen_US
dc.subjectอุณหภูมิต่ำen_US
dc.subjectความต้านทานจำเพาะen_US
dc.titleเทคนิคการวัดค่าความต้านทานจำเพาะของฟิล์มบางที่อุณหภูมิต่ำ = Technique in resistivity measurement of thin film at low temperatures / ปิ่นศักดิ์ ชุมเกษียนen_US
dc.typeวิทยานิพนธ์en_US
Appears in Collections:SCIENCE: Theses



Items in CMUIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.