Please use this identifier to cite or link to this item: http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/32538
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorธีรวัฒน์ ภู่ขวัญเมืองen_US
dc.date.accessioned2014-09-19T04:21:59Z-
dc.date.available2014-09-19T04:21:59Z-
dc.date.issued2524en_US
dc.identifier.govdocว 621.3817072 ธ377กen_US
dc.identifier.urihttp://search.lib.cmu.ac.th/search/?searchtype=.&searcharg=b1104568en_US
dc.identifier.urihttp://cmuir.cmu.ac.th/handle/6653943832/32538-
dc.language.isothaen_US
dc.publisherเชียงใหม่ : บัณฑิตวิทยาลัย มหาวิทยาลัยเชียงใหม่, 2524en_US
dc.subjectฟิล์มบาง -- วิจัยen_US
dc.titleการศึกษาการวัดความหนาของฟิล์มบางโดยวิธีอินเตอร์เฟียโรเมตรี = Interferometry technique in measurement of thin film thickness / ธีรวัฒน์ ภู่ขวัญเมืองen_US
dc.typeวิทยานิพนธ์en_US
Appears in Collections:SCIENCE: Theses



Items in CMUIR are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.